電磁兼容測試場地與設(shè)備-半電波暗室的主要指標(biāo)1
半電波暗室在建設(shè)完成后，整個場地和技術(shù)性能需要符合CISPR16標(biāo)準(zhǔn)要求。在屏蔽體建設(shè)完成，安裝吸波材料或其他裝修前，完成屏蔽效能的測試。在整個電波半暗室完成后，完成歸一化場地衰減(NSA)、場地電壓駐波比（SVSWR）、測試面場均勻性（FU）和場地背景噪聲的測試。所有以上測試項(xiàng)目必須由第三方檢測機(jī)構(gòu)進(jìn)行。
（1）屏蔽效能
半電波暗室金屬殼體的屏蔽性能用屏蔽效能來衡量。屏蔽效能是模擬干擾源置于屏蔽殼體外時，屏蔽體安裝前后的電場強(qiáng)度、磁場強(qiáng)度或功率的比值。暗室的屏蔽效果的好壞不僅與屏蔽材料的性能有關(guān)，也與殼體上可能存在的各種不連續(xù)的形狀和孔洞以及安裝工藝有很大關(guān)系。
例如屏蔽門是暗室的主要進(jìn)出口，需要經(jīng)常開啟，所以門縫是影響屏蔽效能的重要部位?，F(xiàn)在一般采用來改善門與門框的電氣接觸。兩層以上的結(jié)構(gòu)，可以使門縫處的泄漏降到滿足較高屏蔽效能要求的狀態(tài)。
暗室的屏蔽效能應(yīng)當(dāng)適當(dāng)，并非越高越好，要從費(fèi)用價格比考慮。對于新建的暗室，在正式安裝內(nèi)部材料前，必須嚴(yán)格按照GB12190關(guān)于屏蔽室屏蔽效能測量方法嚴(yán)格測量和檢漏，重點(diǎn)對可能造成屏蔽效能降低的縫隙、出入口、通風(fēng)波導(dǎo)、AP板等部位進(jìn)行檢測，如果發(fā)現(xiàn)不合格應(yīng)當(dāng)及時修補(bǔ)。
以下是常規(guī)半電波暗室的屏蔽效能要求。
表3-5 常規(guī)半電波暗室的屏蔽性能
|
頻率 |
衰減量 |
場源 |
|
10 kHz |
≥70dB |
磁場 |
|
10 kHz |
≥100dB |
電場 |
|
100 kHz |
≥100dB |
磁場 |
|
100 kHz |
≥100dB |
電場 |
|
1MHz |
≥100dB |
磁場 |
|
1MHz |
≥110dB |
電場 |
|
100MHz |
≥110dB |
平面波 |
|
400MHz |
≥110dB |
平面波 |
|
＜1GHz |
≥100dB |
平面波 |
|
＞1GHz |
≥100dB |
微波 |
|
10GHz |
≥100dB |
微波 |
|
18GHz |
≥100dB |
微波 |
（2）歸一化場地衰減
場地衰減是測量用場地的一個固有參數(shù)，場地衰減與地面的不平度、地面的電參數(shù)、周圍環(huán)境、收發(fā)天線之間的距離、天線類型和極化方向、收發(fā)天線端口的阻抗等有關(guān)。場地衰減定義為：輸入到發(fā)射天線上的功率與接收天線負(fù)載上所獲得的功率之比。
半電波暗室場地衰減的測試是在開闊測試場場地衰減測試的基礎(chǔ)上進(jìn)行的。根據(jù)CISPR22對半電波暗室這個模擬開闊場的NSA測量作了如下規(guī)定：
① 用雙錐天線和對數(shù)周期天線等寬帶天線進(jìn)行測量，而不用調(diào)諧偶極子天線。估計(jì)是前者低頻端幾何尺寸較后者為小，又便于掃頻測試之故。
② 考慮到EUT具有一定體積，設(shè)備上各點(diǎn)與周邊吸波材料距離不同，應(yīng)對EUT所占空間進(jìn)行多點(diǎn)NSA測量。具體是在發(fā)射天線所處中心位置及前、后、左、右各移動0.75m等5個點(diǎn)，以及發(fā)射天線在不同高度(垂直極化時1m和1.5m，水平極化時1m和2m)下進(jìn)行。因此總共要進(jìn)行20種組合情況下的NSA測量，包括5個位置、2個高度、2種極化。
CISPR 22給出了使用寬帶天線和推薦尺寸的半電波暗室歸一化場地衰減標(biāo)準(zhǔn)值。天線布置如圖3-45和圖3-46所示。
ANCI標(biāo)準(zhǔn)還準(zhǔn)許在下列情況下，將檢測點(diǎn)減少至8點(diǎn)：當(dāng)EUT高度≤1.5m時，可省略高度1.5m的垂直極化檢測點(diǎn)；倘若天線水平極化放置時，其投影可覆蓋EUT直徑的90%，則可省略左右兩個檢測點(diǎn)，如EUT后沿與吸波材料間距≥1m，則后面的測試點(diǎn)可略去。
測量結(jié)果與相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)中的歸一化場地衰減值比較，若誤差在±4dB以內(nèi)，則認(rèn)為其NSA指標(biāo)合格，可以在暗室中進(jìn)行電磁輻射干擾和輻射敏感度的認(rèn)證檢測。
歸一化場地衰減只用來表明測試場地的性能，與天線或測量儀器并沒有多大的關(guān)系，是衡量測試場地性能的重要指標(biāo)之一。信號從發(fā)射源傳輸?shù)浇邮諜C(jī)時，由于場地影響所產(chǎn)生的損耗為NSA，它反映了場地對電磁波傳播的影響。半電波暗室是為模擬開闊場地而建造的，暗室中的NSA應(yīng)和開闊場相一致，CISPR16-1和其他相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求：在30MHz～18GHz頻率范圍內(nèi)，當(dāng)測量的垂直與水平的NSA值在歸一化場地衰減理論值的±4dB之內(nèi)，則測試場地被認(rèn)為是合格的，可以在暗室中進(jìn)行電磁輻射干擾的檢測。
實(shí)踐中，通常NSA在水平極化時對測試幾何條件的變化不像垂直極化時那樣敏感，測值比較容易落入理論值的±4dB范圍，建議先測試。如果出現(xiàn)較大偏差，則應(yīng)首先排出由于儀器、天線系數(shù)、測量方法帶來的問題。如仍不符合要求，則再用垂直極化測試來確定不規(guī)范點(diǎn)，以此分析暗室的結(jié)構(gòu)布置是否存在問題。