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電磁兼容測試場地與設備-開闊試驗場的一般要求

日期:2024-09-19 10:15
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摘要: 試驗場地周圍的環(huán)境應能夠確保EUT的騷擾場強測量結果的有效性和可重復性。對于那些只能工作在使用現(xiàn)場的EUT,須另行規(guī)定。 正常情況下,騷擾場強的測量是在開闊試驗場地上進行的。該開闊試驗場地具有空曠的水平的地勢特征。這種試驗場地應避開建筑物、電力線、籬笆和樹木等,并應遠離地下電纜、管道等,除非它們是EUT供電和運行所必需的。 (1)氣候保護罩 如果試驗場地全年使用,則可以建一個氣候保護罩。氣候保護罩能夠保護或者是包括EUT和場強測量天線在內的整個試驗場地,或者是只保護EUT。所使用的材料應具有...

試驗場地周圍的環(huán)境應能夠確保EUT的騷擾場強測量結果的有效性和可重復性。對于那些只能工作在使用現(xiàn)場的EUT,須另行規(guī)定。

正常情況下,騷擾場強的測量是在開闊試驗場地上進行的。該開闊試驗場地具有空曠的水平的地勢特征。這種試驗場地應避開建筑物、電力線、籬笆和樹木等,并應遠離地下電纜、管道等,除非它們是EUT供電和運行所必需的。

(1)氣候保護罩

如果試驗場地全年使用,則可以建一個氣候保護罩。氣候保護罩能夠保護或者是包括EUT和場強測量天線在內的整個試驗場地,或者是只保護EUT。所使用的材料應具有射頻穿透性,以避免造成不需要的反射和EUT輻射場強的衰減。

氣候保護罩的形狀應易于排雪、冰或水。

(2)無障礙區(qū)

為了得到一個開闊試驗場地,在EUT和場強測量天線之間需要一個無障礙區(qū)域。無障礙區(qū)域應遠離那些具有較大的電磁場的散射體,并且這個區(qū)域應足夠大,使得無障礙區(qū)域以外的散射不會對天線測量的場強產(chǎn)生影響。為了確定無障礙區(qū)域是否足夠大,應該進行場地有效性的試驗。

由于來自物體的散射的場強的幅度大小與許多因素(如,物體的尺寸、到EUT的距離、EUT所在的方位、物體的導電性和介電常數(shù),以及頻率等)相關,所以,對所有設備規(guī)定一個必須且充分適宜的無障礙區(qū)域是不切實際的。無障礙區(qū)域的尺寸和形狀取決于測試距離及EUT是否被可旋轉。如果試驗場地配備了轉臺,那么推薦使用橢圓形的無障礙區(qū)域,接收天線和EUT分別放在其兩個焦點上,長軸的長度為測量距離的2倍,短軸的長度為測量距離的倍。如圖3-2所示。


圖3-2 橢圓形測試場地

對于該橢圓形的無障礙區(qū)域來說,其周界上任何物體的反射波的路徑均為兩個焦點之間的距離的2倍。如果放置在轉臺上的EUT較大,那么就有必要擴展無障礙區(qū)的邊界,以保證從EUT邊界到障礙物之間的凈尺寸。

如果試驗場地沒有配備轉臺,也就是說,EUT是固定不動的,那么推薦使用圓形的無障礙區(qū)域。EUT的邊界到試驗場地的邊界的徑向距離為測試距離的1.5,如圖3-3所示。此時,測量天線可在距離EUT半徑遠的位置上圍繞著EUT動。

 

3-3 圓形的無障礙測試場地

無障礙區(qū)的地勢應平坦。為了排水的需要,允許地勢稍稍傾斜。測量設施和測試人員都應在無障礙區(qū)之外

(3)試驗場地周圍的射頻環(huán)境

試驗場地周圍的射頻電平與被測電平相比應足夠的低,有關這方面的場地質量可以按以下4個等級來評價:

周圍的射頻電平比被測電平低6dB;

周圍某些射頻電平比被測電平低,但不足6dB;

周圍某些射頻電平比被測電平高,但只在有限的可識別的頻率上;它們可能是非周期的(即相對于測量來說,發(fā)射之間的間隔足夠的長).也可能是連續(xù)出現(xiàn)的;

周圍的射頻電平在大部分測量頻率范圍內都比被測電平高,并且是連續(xù)出現(xiàn)的

所選擇的試驗場地應確保:能夠維持在給定的環(huán)境中和可行的工程等級下的測量**度。為了得到更理想的測量結果,建議周圍的射頻電平比被測電平低20dB。

 

(4)接地平板

接地平板可以用對地具有高導電率的大面積的金屬材料構成.接地平板可以放在地平面上,也可以放在一定高度的平臺或屋頂上.*好使用金屬接地平板,但對某些設備和應用場合,有些產(chǎn)品類標準并不一定推薦使用金屬接地平板。金屬接地平板的大小取決于試驗是否要滿足場地有效性的要求。如果接地平板沒有使用金屬材料,那么應特別注意選擇那些其反射特性不隨時間氣候或因地下存在金屬材料(如,管道,倒灌,或不均勻的土地)而變化的試驗場地。通常,這樣的試驗場地會給出不同于金屬表面的試驗場地的場地衰減特性。